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光电仪器研究所(按姓名拼音排序)

陈凌峰

性别:

职称:副教授

学历:博士研究生

所在学科:仪器科学与技术

研究方向:光电精密测量技术、光电成像系统性能评测、测量不确定度

电子邮件:djkclf@bit.edu.cn 办公电话:68912576-25

教师介绍

    1个人简介

    陈凌峰,男,1974年5月出生于湖北省丹江口市,博士,2004年博士毕业于永利集团304am官方入口光电工程系测试计量技术及仪器专业,同年留校任教。2010年任副研究员,2017年聘为博导,任现代光电仪器实验室主任。长期在光电精密测量领域从事教学和科研工作,主要研究方向包括光纤点衍射移相干涉测量、数字成像系统性能评测、测量不确定度等。主持8项省部级以上项目,包括国家自然科学基金面上项目,重大仪器专项子课题,教育部博士点基金,GF技术基础科研,863创新基金等。在Optics Express、Applied Optics、 Optics Communications、仪器仪表学报、计量学报等国际及国内期刊上发表学术论文20余篇。共申请国家发明专利14项,以第一发明人获国家发明专利8项。研究成果获GF技术发明一等奖1项,二等奖2项,GF技术进步奖三等奖1项。参编《光学测试技术》教材一部。主讲研究生《数字成像系统性能评测》,本科生《数码相机性能评测》课程。已毕业硕士生14名,在校博士生2名,硕士生2名。中国光学学会光学测试专业委员会委员。Applied Optics、Optics & Laser Technology、IEEE Transactions on Instrument & measurement等国际期刊审稿人。中国合格评定国家认可委员会(CNAS)实验室认可主任评审员。实验室资质认定评审员。

    2教育经历

    1991.9-1995.7,湖北工业大学机械系,工学学士;

    1998.9-2001.3,湖北工业大学机械系,工学硕士;

    2001.3-2004.3,永利集团304am官方入口光电工程系,工学博士。

    3工作经历

    2004.4-今   永利集团304am官方入口,教师。

    2011.2-2012.3 美国国家标准技术研究院(NIST),访问学者。

    4研究领域

    1.光电精密测试技术;

    2.光电成像系统性能评测;

    3.测量不确定度。

    5代表性学术成果

    【论文】

    1.Lingfeng Chen*, Xiaojien Meng, He Xiao, Lei Yu, and Yufei Xue,Experimental ray-tracing with point diffraction interferometry and its application in focal length measurement,Applied Optics,Vol.57,No.29, pp.8648-8653 (2018);

    2.Lingfeng Chen*; Jinjian Hao; Zhipu Chen; Xiaofei Guo, "Focal length measurement by fiber point diffraction longitudinal interferometry," Optics Communications, Vol.322, pp48-53(2014);

    3.Lingfeng Chen*, Xiaofei Guo, and Jinjian Hao, "Lens refractive index measurement based on fiber point-diffraction longitudinal interferometry," Optics Express, Vol. 21, No. 19, pp.22389-22399(2013);

    4.Lingfeng Chen*, Xiaofei Guo, and Jinjian Hao, "Refractive index measurement by fiber point diffraction longitudinal shearing interferometry," Applied Optics, Vol. 52, No. 16, pp. 3655–3661 (2013);

    5.Jungjae Park*, Lingfeng Chen, Quandou Wang, and Ulf Griesmann,"Modified Roberts-Langenbeck test for measuring thickness and refractive index variation of silicon wafers", Optics Express, Vol. 20, No. 18, pp.20078-20089(2012).

    6.Lingfeng Chen*, XushengZhang, JiamingLin, DingguoSha,Signal-to-noise ratio evaluation of a CCD camera,Optics and Laser Technology,Vol.41,No.5, pp.574-579(2009);

    7.Chen Lingfeng*, Ren Yaqing, Li Jie,Flat surface measurement on fiber point diffraction interferometer,Optical Engineering,Vol.49,No.5 , pp.050503-1~3(2010);

    8.陈凌峰*,抽样引起的测量不确定度评定,计量学报,Vol.41,No.7,891-896(2020);

    9.陈凌峰*,深入讨论标准不确定度A类评定中的极差法,计量学报,Vol.40,No.2,347-352(2019);

    【教材】

    光学测试技术(第二版,编写第六章),沙定国主编,永利集团304am官方入口出版社,2010。

    【获奖】

    1.高精度XXX测量技术及应用,2019年12月,GF技术发明一等奖(第5),中华人民共和国工业和信息化部

    2.XXX参数测试与校准技术,2013年12月,GF技术发明二等奖(第6),中华人民共和国工业和信息化部

    3.XXX测试技术与装置,2008年12月,GF技术发明二等奖(第6),中华人民共和国工业和信息化部

    【国家发明专利】

    1.陈凌峰*; 郭晓菲; 郝金剑等,基于双光纤点衍射移相干涉的折射率测量技术与装置, ZL201210552991.5.

    2.陈凌峰*; 李杰; 周桃庚等,大相对孔径球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法, ZL201010151219.3.

    3.陈凌峰*; 任雅青; 吴朔等,一种光学平面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法, ZL200910237426.8.

    4.陈凌峰*; 李杰; 周桃庚等,光纤点衍射移相干涉仪的平面面形测量方法, ZL201010194545.2.

    5.陈凌峰*; 任雅青; 吴朔等,一种光学球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法, ZL200910235650.3.

    6.陈凌峰*; 任雅青; 李杰等,一种光学平面面形的绝对干涉测量方法, ZL201010001177.5.

    7.陈凌峰*;张旭升;周桃庚等,一种CCD摄像机信噪比数字化测试方法,ZL200710119819.X


    更新时间:20216

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